ICP－AES直接测定荧光级氧化铕中5个稀土杂质
来源期刊：分析试验室1994年第2期
论文作者：张少夫
关键词：氧化铕;ICP－AES;Ce、Pr、Sm、Ga和Dy测定;
摘 要：本文采用ＪｏｂｉｎＹｖｏｎ３８Ⅱ光谱仪直接测定高纯氧化铕中Ｃｓ、Ｐｒ、Ｓｍ、Ｇａ、Ｄｙ５个稀土杂质，试验考查了氧化铕基体，共存元素，酸度等因素的影响。利用正文试验Ｌ＿（２５）（５）￣６确定了仪器最佳条件。当基体纯度为９９．９９％时；回收率在９４．０～１０８．０％之间。在实际应用中获得满意的结果。
张少夫
赣州有色冶金研究所
摘 要：本文采用ＪｏｂｉｎＹｖｏｎ３８Ⅱ光谱仪直接测定高纯氧化铕中Ｃｓ、Ｐｒ、Ｓｍ、Ｇａ、Ｄｙ５个稀土杂质，试验考查了氧化铕基体，共存元素，酸度等因素的影响。利用正文试验Ｌ＿（２５）（５）￣６确定了仪器最佳条件。当基体纯度为９９．９９％时；回收率在９４．０～１０８．０％之间。在实际应用中获得满意的结果。
关键词：氧化铕;ICP－AES;Ce、Pr、Sm、Ga和Dy测定;
