透明全息防伪薄膜光学性质研究
来源期刊：材料导报2004年第7期
论文作者：魏建东 周斌 沈军 倪星元 秦仁喜 吴广明 徐平 张志华
关键词：透明全息; 防伪; 薄膜;
摘 要：一种透明全息防伪薄膜,在透明的同时反射全息图像.用全息摄影、激光雕刻和电铸手段,以光栅条纹的形式记录和制备金属模版.热压具有蚋米结构的TiO2信息层,再现全息图像.用溶胶-凝胶方法制备信息层,选择合适的前驱体、催化剂、热处理条件使折射率≥1.8.据光学匹配原理设计膜系,信息层/基底层厚度分别为≥0.3 μm和≥10μm.正弦波状光栅,深度0.1 μm.在视角≥60再现的全息图像最清晰.
魏建东1，周斌1，沈军1，倪星元1，秦仁喜1，吴广明1，徐平1，张志华1
(1.同济大学波耳固体物理研究所,上海,200092)
摘要:一种透明全息防伪薄膜,在透明的同时反射全息图像.用全息摄影、激光雕刻和电铸手段,以光栅条纹的形式记录和制备金属模版.热压具有蚋米结构的TiO2信息层,再现全息图像.用溶胶-凝胶方法制备信息层,选择合适的前驱体、催化剂、热处理条件使折射率≥1.8.据光学匹配原理设计膜系,信息层/基底层厚度分别为≥0.3 μm和≥10μm.正弦波状光栅,深度0.1 μm.在视角≥60再现的全息图像最清晰.
关键词:透明全息; 防伪; 薄膜;
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