杂质元素对光谱法测定锆铪混合氧化物中氧化锆和氧化铪的影响
来源期刊：分析试验室1988年第4期
论文作者：王在中
文章页码：58 - 59
摘 要：<正> 锆、铪混合氧化物中氧化锆和氧化铪的测定有X荧光光谱法与压片-光谱法。压片法由于价廉而适用于工业控制分析。本工作研究了锆、铪冶炼中各种中间产品的杂质（10—50％）对压片法测定结果的影响,通过大量实验和多年的应用实践,证明试样中
王在中
江苏省化工研究所
摘 要：<正> 锆、铪混合氧化物中氧化锆和氧化铪的测定有X荧光光谱法与压片-光谱法。压片法由于价廉而适用于工业控制分析。本工作研究了锆、铪冶炼中各种中间产品的杂质（10—50％）对压片法测定结果的影响,通过大量实验和多年的应用实践,证明试样中
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