纳米氧化硅改性聚酰亚胺薄膜的制备与性能研究

来源期刊：绝缘材料2014年第1期

论文作者：廖波 张步峰 王文进 田苗 周升

文章页码：37 - 39

关键词：耐电晕;聚酰亚胺薄膜;纳米氧化硅;

摘    要：使用共混法制备了纳米SiO2/聚酰亚胺复合薄膜,研究了纳米SiO2添加量对该复合薄膜力学性能、电气强度以及耐电晕性能的影响,并讨论了树脂体系的固含量对该复合薄膜耐电晕性能的影响。结果表明:随着SiO2添加量的增大,薄膜的拉伸强度变化不大,但断裂伸长率下降明显,电气强度先升高后降低,SiO2含量为6%时电气强度达到最大值,耐电晕性能提高。随着树脂固含量的增大,薄膜的耐电晕性能也随之提高,最佳树脂固含量为19%。