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直接重写磁光记录薄膜磁特性测量的外推方法

来源期刊：磁性材料及器件2001年第3期

论文作者：蔡长波李震

关键词：磁光记录薄膜; 磁滞回线; 外推法; 振动样品磁强计;

摘要：当测量直接重写磁光记录薄膜的矫顽力,饱和磁化强度所需的外磁场和磁化强度超出了所用VSM的测量范围时,若不采用增加膜厚的方法,则无法直接测量薄膜的基本参数.本文提出一种简单、有效、可靠、精密的外推方法间接地测量出它的磁性参数,并得到它的完整的温度特性,为每层膜居里温度的估计提供可靠的依据.

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蔡长波¹，李震¹

(1.华中科技大学电子科学与技术系,)

摘要:当测量直接重写磁光记录薄膜的矫顽力,饱和磁化强度所需的外磁场和磁化强度超出了所用VSM的测量范围时,若不采用增加膜厚的方法,则无法直接测量薄膜的基本参数.本文提出一种简单、有效、可靠、精密的外推方法间接地测量出它的磁性参数,并得到它的完整的温度特性,为每层膜居里温度的估计提供可靠的依据.

关键词:磁光记录薄膜; 磁滞回线; 外推法; 振动样品磁强计;

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