简介概要

电感耦合等离子体质谱法测定纳米硅粉中20种杂质元素

来源期刊:冶金分析2017年第12期

论文作者:古行乾 施意华 邱丽 唐碧玉 秦海青 杨坤

文章页码:15 - 21

关键词:电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS);纳米硅粉;甘露醇;杂质元素;磷;硼;

摘    要:采用HNO3和HF体系溶解样品,通过选择合适的待测同位素和干扰系数校正法克服了质谱干扰,以45Sc为内标测定Li、B、Mg、Al、P、Ca、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu和Zn,以103Rh为内标测定Ga、Cd、Sn、Sb、Ba和Pb,建立了电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)对纳米硅粉中20种杂质元素的测定方法。实验发现,在溶样时加入1.0mL 30g/L甘露醇溶液,同时控制蒸发消解温度为120℃可有效抑制元素B的挥发损失,进而提高了测定元素B的准确性;采用加热蒸发消解挥Si的方法处理样品后,待测溶液中Si的质量浓度低于100mg/L,不仅可以消除Si基体对测定的干扰,而且也消除了对元素P测定的干扰;采取增加泵速并使用10%氨水(V/V)和10%HNO3(V/V)交替冲洗的方式可消除元素B的记忆效应。以各元素的质量浓度为横坐标,其对应的离子强度为纵坐标绘制校准曲线,各元素校准曲线的相关系数均在0.999 9以上,方法检出限为0.000 30.30μg/g,背景等效浓度为0.001 14.9μg/g。采用实验方法对纳米硅粉实际样品中各元素进行测定,所得结果的相对标准偏差(RSD,n=9)为1.1%7.6%,加标回收率在90%108%之间。采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)进行方法对照试验,测定B、P、Al、Ca、Mg、Fe的结果与实验方法基本一致。

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电感耦合等离子体质谱法测定纳米硅粉中20种杂质元素

古行乾1,施意华1,邱丽1,唐碧玉1,秦海青1,2,3,杨坤4

1. 中国有色桂林矿产地质研究院有限公司2. 广西超硬材料重点实验室3. 国家特种矿物材料工程技术研究中心4. 四川省邻水县环境监测站

摘 要:采用HNO3和HF体系溶解样品,通过选择合适的待测同位素和干扰系数校正法克服了质谱干扰,以45Sc为内标测定Li、B、Mg、Al、P、Ca、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu和Zn,以103Rh为内标测定Ga、Cd、Sn、Sb、Ba和Pb,建立了电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)对纳米硅粉中20种杂质元素的测定方法。实验发现,在溶样时加入1.0mL 30g/L甘露醇溶液,同时控制蒸发消解温度为120℃可有效抑制元素B的挥发损失,进而提高了测定元素B的准确性;采用加热蒸发消解挥Si的方法处理样品后,待测溶液中Si的质量浓度低于100mg/L,不仅可以消除Si基体对测定的干扰,而且也消除了对元素P测定的干扰;采取增加泵速并使用10%氨水(V/V)和10%HNO3(V/V)交替冲洗的方式可消除元素B的记忆效应。以各元素的质量浓度为横坐标,其对应的离子强度为纵坐标绘制校准曲线,各元素校准曲线的相关系数均在0.999 9以上,方法检出限为0.000 30.30μg/g,背景等效浓度为0.001 14.9μg/g。采用实验方法对纳米硅粉实际样品中各元素进行测定,所得结果的相对标准偏差(RSD,n=9)为1.1%7.6%,加标回收率在90%108%之间。采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)进行方法对照试验,测定B、P、Al、Ca、Mg、Fe的结果与实验方法基本一致。

关键词:电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS);纳米硅粉;甘露醇;杂质元素;磷;硼;

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