X射线荧光光谱法测定钼精矿中钼、铁、铅、铜、硅和钙含量
来源期刊:理化检验-化学分册2013年第7期
论文作者:秦婷 张旭龙 热孜婉 全小盾
文章页码:827 - 830
关键词:X射线荧光光谱法;钼精矿;钼;铁;铅;铜;硅;钙;
摘 要:提出了应用X射线荧光光谱法测定钼精矿样品中钼、铁、铅、铜、硅和钙等6种元素。样品以四硼酸锂与硝酸锂为熔剂于1 100℃熔融,15 min后倒入铂-金模具中成型,脱摸所得熔块用于X射线荧光光谱分析。以高纯三氧化钼、三氧化二铁、二氧化硅、碳酸钙、铜标准溶液和铅标准溶液等物质为基础,配制10个校准样品用于制作工作曲线。优化了各元素的基体校正数学模型。方法的检出限在0.003%0.015%之间;对同一钼精矿试样重复测定11次,测得其相对标准偏差(n=11)在0.066%2.5%之间。方法用于2个钼精矿样品分析,所得结果与化学法测定结果相符合。
秦婷,张旭龙,热孜婉,全小盾
新疆出入境检验检疫局
摘 要:提出了应用X射线荧光光谱法测定钼精矿样品中钼、铁、铅、铜、硅和钙等6种元素。样品以四硼酸锂与硝酸锂为熔剂于1 100℃熔融,15 min后倒入铂-金模具中成型,脱摸所得熔块用于X射线荧光光谱分析。以高纯三氧化钼、三氧化二铁、二氧化硅、碳酸钙、铜标准溶液和铅标准溶液等物质为基础,配制10个校准样品用于制作工作曲线。优化了各元素的基体校正数学模型。方法的检出限在0.003%0.015%之间;对同一钼精矿试样重复测定11次,测得其相对标准偏差(n=11)在0.066%2.5%之间。方法用于2个钼精矿样品分析,所得结果与化学法测定结果相符合。
关键词:X射线荧光光谱法;钼精矿;钼;铁;铅;铜;硅;钙;