Weierstrass-Mandelbrot分形曲面的多重分形谱
来源期刊：功能材料2008年第9期
论文作者：宋学萍 戴结林 孙兆奇 吕建国
关键词：Weierstrass-Mandelbrot(W-M)曲面; 分形维数; 多重分形谱; 粗糙度;
摘 要：构造了不同分形维数的Weierstrass-Mandelbrot(W-M)分形曲面,采用多重分形方法研究了W-M曲面表面高度的分布特征.结果表明,随着曲面分形维数的增加,多重分形谱的谱宽△α从0.082增大到0.215,说明曲面的起伏、粗糙程度随分形维数的增加不断增大,与方均根rms粗糙度σ的计算结果一致.分形谱的△f均＞0,表明曲面上高度最大处数目多于高度最小处数目,曲面的峰位处比较平缓、圆润.
宋学萍1，戴结林2，孙兆奇1，吕建国1
(1.安徽大学,物理与材料科学学院,安徽,合肥,230039;
2.合肥师范学院,物理与电子工程系,安徽,合肥,230061)
摘要:构造了不同分形维数的Weierstrass-Mandelbrot(W-M)分形曲面,采用多重分形方法研究了W-M曲面表面高度的分布特征.结果表明,随着曲面分形维数的增加,多重分形谱的谱宽△α从0.082增大到0.215,说明曲面的起伏、粗糙程度随分形维数的增加不断增大,与方均根rms粗糙度σ的计算结果一致.分形谱的△f均＞0,表明曲面上高度最大处数目多于高度最小处数目,曲面的峰位处比较平缓、圆润.
关键词:Weierstrass-Mandelbrot(W-M)曲面; 分形维数; 多重分形谱; 粗糙度;
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