扫描Kelvin探针表面电位特征参数在有机涂层劣化研究中的应用

来源期刊：腐蚀与防护2014年第10期

论文作者：赵增元 吕伟艳 马永青 张有慧 孔爱民 朱玉婷

文章页码：1033 - 1036

关键词：有机涂层;扫描Kelvin探针(SKP);表面电位特征参数;表面电位梯度;

摘    要：为了研究扫描Kelvin探针表面电位技术在有机涂层劣化研究中的应用并选择合理的评价特征参数,结合使用电化学阻抗谱EIS和扫描Kelvin探针（SKP）技术研究了有机涂层在3.5%NaCl溶液中的劣化过程,分析了有机涂层劣化过程中扫描Kelvin探针表面电位分布数特征参数Vmin、Vmax-Vmin的变化规律,并首次提出了表面电位梯度最大值gradmax这个特征参数。结果证明,扫描Kelvin探针特征参数gradmax、Vmin,Vmax-Vmin和电化学阻抗谱具有很好的相关性,扫描Kelvin探针特征参数能够很好地用来评价有机涂层劣化,表面电位梯度最大值gradmax可以用来研究有机涂层下金属腐蚀发生的趋势和速度。