电子晶体学图像处理及其在材料科学中的应用
来源期刊：稀有金属材料与工程2002年第3期
论文作者：李方华
关键词：高分辨电子显微学; 电子晶体学; 晶体结构; 晶体缺陷; 图像处理;
摘 要：本文指出,借助高分辨电子显微镜观察到的显微像并不总直观地反映晶体结构,对于在特定离焦条件下拍摄到的结构像,其分辨率还要受显微镜分辨本领的限制,只有超高压高分辨电子显微镜才能直接给出原子分辨率的结构像.文章介绍了衍射晶体学与高分辨电子显微学相结合起来的优越性,和据此发展的电子晶体学图像处理技术,用此技术可以实现"从头"测定晶体结构,并能把中等电压电子显微镜得到的结构像分辨率约提高1倍,达到原子分辨率.文中举例介绍了此技术在测定晶体结构和缺陷中的应用.
李方华1
(1.中国科学院物理研究所,北京,100080)
摘要:本文指出,借助高分辨电子显微镜观察到的显微像并不总直观地反映晶体结构,对于在特定离焦条件下拍摄到的结构像,其分辨率还要受显微镜分辨本领的限制,只有超高压高分辨电子显微镜才能直接给出原子分辨率的结构像.文章介绍了衍射晶体学与高分辨电子显微学相结合起来的优越性,和据此发展的电子晶体学图像处理技术,用此技术可以实现"从头"测定晶体结构,并能把中等电压电子显微镜得到的结构像分辨率约提高1倍,达到原子分辨率.文中举例介绍了此技术在测定晶体结构和缺陷中的应用.
关键词:高分辨电子显微学; 电子晶体学; 晶体结构; 晶体缺陷; 图像处理;
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