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用XRD线形分析法表征TiC粉体中的镶嵌尺寸与晶格畸变

来源期刊：硬质合金2009年第2期

论文作者：李晨辉陈霞

关键词：X射线衍射线形分析; 镶嵌尺寸; 晶格畸变;

摘要：采用XRD线形分析(双Voigt函数)法对球磨行星96 h的TiC粉和纳米TiC粉中的镶嵌尺寸和晶格畸变进行了对比分析和表征,并采用TEM法印证.研究结果表明,球磨粉的平均镶嵌尺寸大约为纳米粉的40%,而球磨粉的平均晶格畸变大约为纳米粉的5倍.TEM的分析结果与XRD表征结果相吻合.

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李晨辉¹，陈霞¹

(1.华中科技大学,湖北武汉,430074)

摘要:采用XRD线形分析(双Voigt函数)法对球磨行星96 h的TiC粉和纳米TiC粉中的镶嵌尺寸和晶格畸变进行了对比分析和表征,并采用TEM法印证.研究结果表明,球磨粉的平均镶嵌尺寸大约为纳米粉的40%,而球磨粉的平均晶格畸变大约为纳米粉的5倍.TEM的分析结果与XRD表征结果相吻合.

关键词:X射线衍射线形分析; 镶嵌尺寸; 晶格畸变;

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