X射线应力仪侧倾法测定板材的残余奥氏体含量

来源期刊：理化检验物理分册2011年第10期

论文作者：巴发海 柴泽

文章页码：629 - 1267

关键词：X射线应力仪;侧倾法;测试条件;残余奥氏体含量;

摘    要：采用X射线应力仪侧倾法对某型板材的残余奥氏体含量进行了测定,研究了测试条件对测定结果的影响。结果表明:不同试样表面状态、不同测试方向和侧倾角度的单次测定结果之间存在较大的差异,因而单次测定结果不适合作为最终测定结果;就不同侧倾角残余奥氏体含量测定结果的平均值而言,试样表面状态对测定结果没有明显的影响;利用X射线应力仪,采用多个测试方向、较大直径的准直管和多个侧倾角进行残余奥氏体含量测定,可以获得较为均匀一致的残余奥氏体含量平均值。