高压覆膜制样-X射线荧光光谱法测定多金属矿中的多种元素
来源期刊：中国无机分析化学2020年第2期
论文作者：李小莉 薄玮 徐进力 潘宴山 张勤
文章页码：34 - 38
关键词：高压覆膜制样;X射线荧光光谱法;多金属矿;
摘 要：采用新的制样技术——高压（1 800kN）覆膜（3.6μm Polyester Film）制样,波长色散X射线荧光光谱测定多金属矿中19种组分。该制样技术对高硅锌矿石GBW07237（SiO2 82.95%）,不加黏结剂,也能制出理想的样片。测定结果显示1 800kN制备样品多数组分的灵敏度、精密度和检出限较400kN制备的样品有所改善。15个多金属矿标准物质建立校准曲线,使用Rh Kα的瑞利散射线作内标测定Cu、Pb、Zn、As和Rh Kα的康普顿散射线作内标测定Sb、Ag、Sn、Bi、Mo及经验系数法校正基体效应。Cu、Pb、Zn、Mn、As、Sb、Ag、Sn、Bi、Mo的测定结果与化学法相符,可同时分析其中的Cd、S、Fe、SiO2、Al2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O等成分。实现了固体直接进样测定多金属矿中的多种元素。高压覆膜制样技术是制样技术的突破,国内外尚未见报道。
李小莉，薄玮，徐进力，潘宴山，张勤
中国地质科学研究院地球物理地球化学勘查研究所国土资源部地球化学探测技术重点实验室
摘 要：采用新的制样技术——高压（1 800kN）覆膜（3.6μm Polyester Film）制样,波长色散X射线荧光光谱测定多金属矿中19种组分。该制样技术对高硅锌矿石GBW07237（SiO2 82.95%）,不加黏结剂,也能制出理想的样片。测定结果显示1 800kN制备样品多数组分的灵敏度、精密度和检出限较400kN制备的样品有所改善。15个多金属矿标准物质建立校准曲线,使用Rh Kα的瑞利散射线作内标测定Cu、Pb、Zn、As和Rh Kα的康普顿散射线作内标测定Sb、Ag、Sn、Bi、Mo及经验系数法校正基体效应。Cu、Pb、Zn、Mn、As、Sb、Ag、Sn、Bi、Mo的测定结果与化学法相符,可同时分析其中的Cd、S、Fe、SiO2、Al2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O等成分。实现了固体直接进样测定多金属矿中的多种元素。高压覆膜制样技术是制样技术的突破,国内外尚未见报道。
关键词：高压覆膜制样;X射线荧光光谱法;多金属矿;
