晶体材料内部残余应力衍射法无损检测的研究进展

张津¹，高振桓¹，牟建雷¹，郑林²，何长光²

1. 北京科技大学北京市腐蚀、磨蚀及表面技术重点实验室2. 中国兵器工业第五九研究所

摘 要：目前能够准确、无损地测试材料内部残余应力的手段主要是中子衍射和同步辐射,但这两种测试手段需要核反应堆或高能同步辐射源,投资巨大,只为少数发达国家的少数实验室所拥有,难以应用到实际生产中。短波长X射线衍射仪通过钨靶-K_α特征射线（波长约0.02 nm）以及独特的谱接收方式,达到或接近同步辐射及中子衍射对晶体材料内部晶格应变的无损定点测试,为内部残余应力无损检测的广泛应用开辟了一条新的渠道。介绍了中子衍射和同步辐射对残余应力测试的国内外研究现状,重点展示了短波长X射线衍射仪用于内部应力测试的结果,并就三种测试方法特点进行了对比分析。

关键词：晶体材料;残余应力;无损检测;中子衍射;同步辐射;短波长X射线衍射;