X-射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga2O3含量
来源期刊：轻金属2011年第3期
论文作者：张晓平
文章页码：25 - 26
关键词：X-射线荧光光谱仪;直接压片法;氧化铝;Ga2O3;
摘 要：用X-射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga2O3含量。该方法快捷方便,准确度、精密度高,能满足科研和工业生产的需要。
张晓平
包头铝业有限公司
摘 要：用X-射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga2O3含量。该方法快捷方便,准确度、精密度高,能满足科研和工业生产的需要。
关键词：X-射线荧光光谱仪;直接压片法;氧化铝;Ga2O3;
