三级硅基填料的构筑及其对牙科复合树脂性能的影响
来源期刊：材料科学与工艺2020年第3期
论文作者：王瑞莉 朱美芳
文章页码：24 - 30
关键词：牙科复合树脂;双模SiO2填料;八乙烯基多面体低聚倍半硅氧烷（OV-POSS）;填料组成;物理-力学性能;
摘 要：为提高无机填料在牙科复合树脂中的堆积密度,采用八乙烯基多面体低聚倍半硅氧烷（OV-POSS）作为第三级填料,填充双模SiO2填料（SiO2纳米粒子&SiO2纳米团簇）型复合树脂中的空隙。用高分辨率透射电镜（HR-TEM）和动态光散射仪（DLS）,研究了OV-POSS的形貌和粒径,并利用UV-vis-NIR分光光度计、万能实验机和MTT比色法,研究了三级填料的组成对复合树脂性能的影响。结果表明:OV-POSS形貌为近球形,粒径为（4.0±2.9）nm;当OV-POSS的添加量≤5wt.%时,复合树脂的性能逐渐得到改善,尤其当OV-POSS的质量分数为5%时,复合树脂的透光率和细胞活性优于商品化纳米团簇型树脂Z350 XT,且其弯曲强度（112.3 MPa±5.6 MPa）、弯曲模量（6.6 GPa±0.2 GPa）和压缩强度（217.8 MPa±5.3 MPa）达到最大值,较未添加OV-POSS的树脂分别提高了7.2%、4.8%和5.8%。但是,随着OV-POSS含量增加（≥10wt.%）,OV-POSS易聚集且散射更多的光,导致复合树脂性能下降。
王瑞莉1,2，朱美芳1,2
1. 东华大学材料科学与工程学院2. 纤维材料改性国家重点实验室(东华大学)
摘 要：为提高无机填料在牙科复合树脂中的堆积密度,采用八乙烯基多面体低聚倍半硅氧烷（OV-POSS）作为第三级填料,填充双模SiO2填料（SiO2纳米粒子&SiO2纳米团簇）型复合树脂中的空隙。用高分辨率透射电镜（HR-TEM）和动态光散射仪（DLS）,研究了OV-POSS的形貌和粒径,并利用UV-vis-NIR分光光度计、万能实验机和MTT比色法,研究了三级填料的组成对复合树脂性能的影响。结果表明:OV-POSS形貌为近球形,粒径为（4.0±2.9）nm;当OV-POSS的添加量≤5wt.%时,复合树脂的性能逐渐得到改善,尤其当OV-POSS的质量分数为5%时,复合树脂的透光率和细胞活性优于商品化纳米团簇型树脂Z350 XT,且其弯曲强度（112.3 MPa±5.6 MPa）、弯曲模量（6.6 GPa±0.2 GPa）和压缩强度（217.8 MPa±5.3 MPa）达到最大值,较未添加OV-POSS的树脂分别提高了7.2%、4.8%和5.8%。但是,随着OV-POSS含量增加（≥10wt.%）,OV-POSS易聚集且散射更多的光,导致复合树脂性能下降。
关键词：牙科复合树脂;双模SiO2填料;八乙烯基多面体低聚倍半硅氧烷（OV-POSS）;填料组成;物理-力学性能;
