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放电等离子体烧结Cu(In0.7Ga0.3)Se2四元合金靶材的结构和导电性

来源期刊:稀有金属材料与工程2017年第1期

论文作者:谭志龙 冯海权 张俊敏 王传军 闻明 管伟明 郭俊梅 李晨辉

文章页码:237 - 241

关键词:Cu(In0.7Ga0.3)Se2;放电等离子体烧结(SPS);致密度;电阻率;

摘    要:选用650℃下真空合成的Cu(In0.7Ga0.3)Se2单相合金粉末,通过放电等离子体烧结(SPS)法制备了CIGS合金靶材。研究了烧结温度、保温时间以及烧结压强等工艺参数对CIGS四元合金靶材的结构与性能的影响。研究表明,烧结温度为500℃以上时,靶材为单一的Cu(In0.7Ga0.3)Se2相。随着烧结温度的升高,靶材的晶粒尺寸增大,致密度和电阻率基本呈线性升高;随着保温时间的延长,靶材晶粒尺寸增大,致密度和电阻率也随之升高;随着烧结压强的提高,靶材的致密度增加,而电阻率随之降低。综上所述,烧结温度为600℃,压强为30 MPa,保温时间为5 min的工艺条件下,制备靶材的电阻率为50Ω·cm,致密度为98%。

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放电等离子体烧结Cu(In0.7Ga0.3)Se2四元合金靶材的结构和导电性

谭志龙1,冯海权2,张俊敏1,王传军1,闻明1,管伟明1,郭俊梅1,李晨辉2

1. 昆明贵金属研究所稀贵金属综合利用新技术国家重点实验室2. 华中科技大学

摘 要:选用650℃下真空合成的Cu(In0.7Ga0.3)Se2单相合金粉末,通过放电等离子体烧结(SPS)法制备了CIGS合金靶材。研究了烧结温度、保温时间以及烧结压强等工艺参数对CIGS四元合金靶材的结构与性能的影响。研究表明,烧结温度为500℃以上时,靶材为单一的Cu(In0.7Ga0.3)Se2相。随着烧结温度的升高,靶材的晶粒尺寸增大,致密度和电阻率基本呈线性升高;随着保温时间的延长,靶材晶粒尺寸增大,致密度和电阻率也随之升高;随着烧结压强的提高,靶材的致密度增加,而电阻率随之降低。综上所述,烧结温度为600℃,压强为30 MPa,保温时间为5 min的工艺条件下,制备靶材的电阻率为50Ω·cm,致密度为98%。

关键词:Cu(In0.7Ga0.3)Se2;放电等离子体烧结(SPS);致密度;电阻率;

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