化学还原法合成均匀银纳米线的条件研究

郑彦¹，张哲娟²，潘丽坤¹，郭平生¹，孙卓¹

1. 华东师范大学物理系纳光电集成与先进装备教育部工程研究中心2. 华东师范大学化学系纳光电集成与先进装备教育部工程研究中心

摘 要：采用化学还原法,以乙二醇为还原剂,聚乙烯砒咯烷酮（PVP K30）为表面活性剂,通过还原硝酸银（AgNO3）溶液直接制备了高浓度的Ag纳米线溶液,并研究了PVP与AgNO3溶液摩尔浓度比和AgNO3溶液浓度对Ag纳米线生长的影响。用扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）对纳米Ag晶体的生长形貌进行了比较,利用X射线衍射（XRD）分析了Ag纳米线的晶体结构。研究结果表明,在160℃下,当AgNO3溶液浓度为0.6M,PVP/AgNO3的浓度比为6时,可制备规则的面心立方晶系纯相的Ag纳米线,直径为60-100nm,长度可达10μm,且具有产量高和重复性强的特点。

关键词：银纳米线;化学还原法;制备;