X射线荧光光谱法测定富砷地质样品中的主次痕量元素

来源期刊：分析试验室2014年第10期

论文作者：龚仓 李高湖 付桂花 唐鑫 黄艳波

文章页码：1220 - 1224

关键词：X射线荧光光谱法;基体效应;地质样品;砷;粉末样压片;

摘    要：利用Axios X射线荧光光谱仪,借助粉末压片制样测定了富砷地质样品中As,S,Ti,V,Cr,Mn,Zr,Co,Ni,Cu,Zn,Mo,Ba,Pb,SiO2,Al2O3,Fe2O3,MgO,CaO,Na2O和K2O等21种主次痕量元素,用理论α系数校正基体效应,用强度方式计算重叠系数校正重叠干扰。实验结果表明,该方法除Mo的检出限0.8μg/g超出地球化学普查要求检出限0.5μg/g外,其它元素满足要求;除元素Mo的均值方根高于2倍相对计数统计误差外,其它元素的均值方根均小于2倍相对计数统计误差,且绝大多数元素的均值方根(n=12)都小于1.0%;另外,对国家标准物质的测试结果与标准值相一致。将本方法用于实际样品的测试,分析结果与其它化学分析方法相符。