基于超高密度信息存储薄膜制备的研究进展
来源期刊:材料导报2007年第11期
论文作者:张秀清 申承民 蔡莉 高鸿钧 郭海明 潘礼庆
关键词:超高密度信息存储; 存储介质薄膜; 薄膜制备; 扫描探针显微镜;
摘 要:信息技术的发展要求存储器件必须具备超高存储密度、超快的存取速率.存储介质是高密度信息存储研究中的基本问题,目前几乎所有的超高密度存储技术都是在薄膜介质上实现的.薄膜的性质除依赖于存储介质材料外还依赖于薄膜的制备技术.从存储介质薄膜的制备角度介绍了超高密度信息存储的研究进展.
张秀清1,申承民2,蔡莉2,高鸿钧2,郭海明2,潘礼庆1
(1.北京科技大学应用科学学院物理系,北京,100083;
2.中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室,北京,100080)
摘要:信息技术的发展要求存储器件必须具备超高存储密度、超快的存取速率.存储介质是高密度信息存储研究中的基本问题,目前几乎所有的超高密度存储技术都是在薄膜介质上实现的.薄膜的性质除依赖于存储介质材料外还依赖于薄膜的制备技术.从存储介质薄膜的制备角度介绍了超高密度信息存储的研究进展.
关键词:超高密度信息存储; 存储介质薄膜; 薄膜制备; 扫描探针显微镜;
【全文内容正在添加中】