高含量钼的全差示光度法测定

来源期刊：中国钼业1989年第4期

论文作者：谢斌

文章页码：27 - 30

摘    要：<正> 全差示光度法是我国近年来发展起来的一项新技术,此法精度好(相对偏差0.4—0.2％),灵敏度高(比普通法提高十倍),测定范围广(0.00X～99.0X％)。硫氰酸盐光度法是测定低量钼的常用方法,近十年来有了很多改进,特别是引入铜盐作催化剂,从而大大降低了显色酸度,提高了显色速度和稳定性。使用还原剂是为了保证钼还原成五价且不被还原成更底价,大多选用硫脲作还原剂。本法在低含量测钼的基础上,用金差示光度法测定高含量的钼,把钼的测定范围提高到0～1000微克/50毫