氧化锆中氧化钇的X荧光增量法测定
来源期刊：湖南有色金属1988年第4期
论文作者：张长庚
文章页码：61 - 38
摘 要：<正> 由于氧化锆和氧化钇同属难挥发化合物,且锆有非常复杂的发射光谱和高背景,这就使得用发射光谱测定其中少量氧化钇相当困难,但用 X 荧光测定却相当容易。对少量样品,采用双层粉末压片增量法是一种简单可靠的方法。1.增量样片的制备将50毫克氧化钇与450毫克硼酸混合,充分磨匀。在4个玛瑙乳钵中各称取氧化锆样品100毫克,分别加入上述氧化钇-硼酸混合物0、20、30、40毫克(相当于加氧化钇
张长庚
湖南稀土金属材料研究所
摘 要：<正> 由于氧化锆和氧化钇同属难挥发化合物,且锆有非常复杂的发射光谱和高背景,这就使得用发射光谱测定其中少量氧化钇相当困难,但用 X 荧光测定却相当容易。对少量样品,采用双层粉末压片增量法是一种简单可靠的方法。1.增量样片的制备将50毫克氧化钇与450毫克硼酸混合,充分磨匀。在4个玛瑙乳钵中各称取氧化锆样品100毫克,分别加入上述氧化钇-硼酸混合物0、20、30、40毫克(相当于加氧化钇
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