氢氟酸直接进样-电感耦合等离子体原子发射光谱法（ICP-AES）测定氧化锆中多种杂质元素

来源期刊：中国无机分析化学2013年第S1期

论文作者：谷口理

文章页码：31 - 32

关键词：矿石;氢氟酸直接进样;氧化锆;杂质元素;ICP-AES;

摘    要：采用氢氟酸微波消解法前处理氧化锆材料,使用氢氟酸进样系统,不需要赶酸直接测定GBW06602氧化锆标准样品中的多元素含量,根据样品情况确定了最佳分析条件和最佳分析谱线。实验结果表明,测定元素线性关系及重复性良好,定量准确,可同时测定氧化锆中的多种金属元素,该方法检出限低,精密度高,分析结果与标准值相吻合,完全满足氧化锆中多元素杂质含量的工业分析要求。