UC表层的X射线光电子能谱研究
来源期刊：稀有金属材料与工程2005年第3期
论文作者：汪小琳 刘柯钊 钟永强 伏晓国 赖新春 赵正平
关键词：UC; 表层; XPS;
摘 要：采用X射线光电子能谱(XPS)分析研究了烧结UC(包括钚的碳化物)样品的表面层结构.分析结果表明,经大气氧化的UC表层由表及里大致组成为:少量UO2+x→UO2与UC的混合物及少量自由碳→UC基体.UC的U4f7/2峰和Cls峰结合能分别为378.2 eV和282 eV.定量分析表明,UC清洁表面的C/U原子比约为1:1,这与UC的化学组成一致,但此时仍能探测到少量固溶氧存在.初步探讨了UC在大气环境中的氧化机理.
汪小琳1，刘柯钊1，钟永强1，伏晓国1，赖新春1，赵正平1
(1.中国工程物理研究院,四川,绵阳,621900)
摘要:采用X射线光电子能谱(XPS)分析研究了烧结UC(包括钚的碳化物)样品的表面层结构.分析结果表明,经大气氧化的UC表层由表及里大致组成为:少量UO2+x→UO2与UC的混合物及少量自由碳→UC基体.UC的U4f7/2峰和Cls峰结合能分别为378.2 eV和282 eV.定量分析表明,UC清洁表面的C/U原子比约为1:1,这与UC的化学组成一致,但此时仍能探测到少量固溶氧存在.初步探讨了UC在大气环境中的氧化机理.
关键词:UC; 表层; XPS;
【全文内容正在添加中】
