电子探针计数系统死时间的测定
来源期刊：江西冶金1993年第3期
论文作者：张艳和
文章页码：38 - 86
摘 要：<正> 在电子探针定量分析中,首先必须要获得试样与标样的同一根特征X射线的出射强度比,由于计数系统有一定的死时间,在测量谱线强度计数时会发生漏计,且计数率越高漏计就越多,而分析中,试样和标样的特征X射线计数率是不相同的,有时甚至相差好几个数量级,因此需要对强度计数进行死时间修正。通常所用的死时间修正公式为:
张艳和
江西省钢铁研究所
摘 要：<正> 在电子探针定量分析中,首先必须要获得试样与标样的同一根特征X射线的出射强度比,由于计数系统有一定的死时间,在测量谱线强度计数时会发生漏计,且计数率越高漏计就越多,而分析中,试样和标样的特征X射线计数率是不相同的,有时甚至相差好几个数量级,因此需要对强度计数进行死时间修正。通常所用的死时间修正公式为:
关键词：
