传输线模型分析有机涂层厚度对阻抗谱的影响

林薇薇¹，孙秋霞²，张鉴清²

(1.浙江大学高分子系,杭州,310013;
2.浙江大学化学系,杭州,310013;
3.韶关学院化学系,韶关,512005;
4.中国科学院金属研究所金属腐蚀与防护国家重点实验室,沈阳,110016)

摘要:根据传输线类型的CR电路和结构固定的QR电路之间关系所建立的分析阻抗谱的方法,探讨了有机涂层厚度的不同影响及其应用.CR电路拟合稳定性较高,对于完整涂层,其参数C0随涂层吸水量增加的变化比恒相位角元件参数Y0更有规律,导出参数A1和B1可评价涂层厚度对阻挡性的影响.对于阻挡性不完整的薄涂层,在-定厚度范围内,离散电容Ci随特征频率f*变化的对数曲线斜率与涂层厚度无关,但与离散电容和电阻的相对增量比有确定的关系,可用于评价金属/涂层界面粘结力的变化,并解释了其原因.

关键词:阻抗谱; 传输线; 涂层厚度; 阻挡性; 粘结力;

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