用微小变动量法计算X射线荧光分析中的理论基体修正

来源期刊：工程科学学报1987年第3期

论文作者：谭秉和 崔新发

文章页码：93 - 100

关键词：X射线荧光;基体效应;共存元素;基体修正;

摘    要：微小变动量法是X射线荧光分析中计算理论修正系数的一种成功的方法。用这种方法计算出基础理论修正系数后,可根据需要选择适当的消去项。本文应用作者编写的计算机程序,计算了熔融玻璃片试样的基础理论修正系数δi i后,消去分析元素i及基元素氧两个修正项,得到熔融玻璃片试样中元素间的理论修正系数α_i-j以及氧化物间的理论修正系数Aij。最后用所求得的理论修正系数,采用JIS（日本工业标准）模式,用比较标准法分析了6个铁矿石试样,获得较好的结果。