钨和钴点阵常数的精确测定
来源期刊：稀有金属与硬质合金1999年第4期
论文作者：吴冲浒 陈士仁 张守全
文章页码：30 - 36
关键词：钨;钴;点阵常数;X射线衍射分析;
摘 要：采用Ｘ 射线衍射方法精确测定钨粉和钴粉的点阵常数。测定结果，钨的点阵常数为ａ ＝０．３１６ ４６７ ｎｍ ，钴的点阵常数为ａ ＝ ０ ．３５４ ４１０ ｎｍ 。钴粉的点阵结构以面心立方为主，仅存在微量的密排六方结构。
吴冲浒，陈士仁，张守全
摘 要：采用Ｘ 射线衍射方法精确测定钨粉和钴粉的点阵常数。测定结果，钨的点阵常数为ａ ＝０．３１６ ４６７ ｎｍ ，钴的点阵常数为ａ ＝ ０ ．３５４ ４１０ ｎｍ 。钴粉的点阵结构以面心立方为主，仅存在微量的密排六方结构。
关键词：钨;钴;点阵常数;X射线衍射分析;
