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基于硅油劣化特性对高压电缆终端热状态的测试分析

来源期刊:绝缘材料2020年第3期

论文作者:张静 程林 宋鹏先 刘继平 王伟

文章页码:89 - 93

关键词:硅油;老化;微水含量;热状态;红外光谱;

摘    要:为了对已经在现场运行了12年的220 kV瓷套管电缆终端异常热状态进行研究,以电缆终端内部填充的硅油为研究对象,进行了傅里叶红外光谱分析、介电性能及微水含量测试。结果表明:微水含量对硅油的老化状态影响显著,是硅油老化的特征指标之一。在红外光谱中硅油老化特征峰对应于2 360 cm-1附近P-H键的伸缩振动峰,Si-CH3键、-CH3键及Si-O-Si键的特征峰在老化前后变化不大。在温度为90℃时,硅油的介电性能数据能更好地体现出其性能变化的差异,硅油老化后其介电性能的下降主要是由水分含量提高,加剧硅油老化引起的。

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基于硅油劣化特性对高压电缆终端热状态的测试分析

张静1,程林1,宋鹏先2,刘继平3,王伟1

1. 国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司2. 国网天津市电力公司电力科学研究院3. 国网天津市电力公司

摘 要:为了对已经在现场运行了12年的220 kV瓷套管电缆终端异常热状态进行研究,以电缆终端内部填充的硅油为研究对象,进行了傅里叶红外光谱分析、介电性能及微水含量测试。结果表明:微水含量对硅油的老化状态影响显著,是硅油老化的特征指标之一。在红外光谱中硅油老化特征峰对应于2 360 cm-1附近P-H键的伸缩振动峰,Si-CH3键、-CH3键及Si-O-Si键的特征峰在老化前后变化不大。在温度为90℃时,硅油的介电性能数据能更好地体现出其性能变化的差异,硅油老化后其介电性能的下降主要是由水分含量提高,加剧硅油老化引起的。

关键词:硅油;老化;微水含量;热状态;红外光谱;

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