光纤用四氯化锗含氢杂质的测定方法

来源期刊：分析试验室1992年第6期

论文作者：李贺成 刘建平

文章页码：10 - 13

关键词：光纤用四氯化锗;氢测定;红外光谱;吸光系数;

摘    要：用红外光谱法测定光纤用GeCl₄中的含氢杂质。研究了OH、CH和HCI消光系数的测定方法。实验所用的OH、CH和HCl标准溶液的制备方法,是制备一组溶解于液体GeCl4的H₂O（溶于CCl₄）、CH₃OH和HCl（气）的样品,并测定它们的红外谱(4000～15000cm^-1)。OH、CH和HCl的摩尔吸光系数的实验结果分别为:141.2(2605cm^-1)、24.4(2940cm^-1)和21.9(2845cm^-1)L/mol·cm。