MBE技术蓝宝石衬底上生长VO2薄膜及其太赫兹和金属–绝缘体相变特性研究(英文)
来源期刊:无机材料学报2017年第4期
论文作者:孙洪君 王敏焕 边继明 苗丽华 章俞之 骆英民
文章页码:437 - 442
关键词:二氧化钒薄膜;太赫兹时域光谱;分子束外延;金属–绝缘体相变;
摘 要:采用分子束外延(MBE)技术在单晶蓝宝石衬底上生长了高质量化学计量比二氧化钒(VO2)薄膜,通过该技术实现薄膜厚度1560 nm精确控制。对于优化条件下VO2薄膜,实现了电阻率变化超过4个数量级的优异金属–绝缘体相变,近似于之前报道高质量单晶VO2相变特性。特别是通过太赫兹时域光谱分析了不同厚度的VO2薄膜在太赫兹波段的光学特性。结果表明:VO2薄膜的厚度对其在太赫兹波段的光学特性有很大影响。因此,为了获得更优的可靠性和重复性能,VO2薄膜的厚度必须得到精确控制。本研究结果对于下一步VO2基太赫兹器件研究具有重要意义。
孙洪君1,王敏焕1,边继明1,2,苗丽华1,章俞之2,骆英民1
1. 大连理工大学三束材料改性教育部重点实验室物理与光电工程学院2. 中国科学院上海硅酸盐研究所中国科学院特种无机涂层重点实验室
摘 要:采用分子束外延(MBE)技术在单晶蓝宝石衬底上生长了高质量化学计量比二氧化钒(VO2)薄膜,通过该技术实现薄膜厚度1560 nm精确控制。对于优化条件下VO2薄膜,实现了电阻率变化超过4个数量级的优异金属–绝缘体相变,近似于之前报道高质量单晶VO2相变特性。特别是通过太赫兹时域光谱分析了不同厚度的VO2薄膜在太赫兹波段的光学特性。结果表明:VO2薄膜的厚度对其在太赫兹波段的光学特性有很大影响。因此,为了获得更优的可靠性和重复性能,VO2薄膜的厚度必须得到精确控制。本研究结果对于下一步VO2基太赫兹器件研究具有重要意义。
关键词:二氧化钒薄膜;太赫兹时域光谱;分子束外延;金属–绝缘体相变;