薄晶体定量立体电予显微术
来源期刊：工程科学学报1983年第3期
论文作者：李长海
文章页码：43 - 47
摘 要：<正> 借助于衍射衬度成像,一般的电子显微术可以显示出晶体薄膜试样内部组织的许多信息,这时只需要在特定的衍射条件下摄取一张衍衬像。然而只依据这样一张衍衬像并不能判断某些显微组织在试样内部的空间立体分布。一些工作,例如本期学报所发表的作者的一些工作,往往要求了解沉淀物的三维分布等等,这就必需采用薄晶体试样的定量立体电子显微技术。
李长海
北京钢铁学院金相教研室
摘 要：<正> 借助于衍射衬度成像,一般的电子显微术可以显示出晶体薄膜试样内部组织的许多信息,这时只需要在特定的衍射条件下摄取一张衍衬像。然而只依据这样一张衍衬像并不能判断某些显微组织在试样内部的空间立体分布。一些工作,例如本期学报所发表的作者的一些工作,往往要求了解沉淀物的三维分布等等,这就必需采用薄晶体试样的定量立体电子显微技术。
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