离子束截面抛光-电子探针仪分析在SiCp/Al复合材料相结构研究中的应用
来源期刊：理化检验物理分册2017年第2期
论文作者：胡莹 张澜庭
文章页码：101 - 104
关键词：离子束截面抛光;电子探针仪分析;SiCp/Al复合材料;相结构解析;
摘 要：SiC颗粒增强铝基复合材料(SiC_p/Al),由于其结构复杂且各组成单元之间的物理、化学性质存在明显的差异,因而在试样制备、微观结构表征等工作中存在一定困难。利用离子束截面抛光(CP)制样技术结合电子探针X射线分析仪(EPMA)分析,提出了一种适宜解析这种复合材料微观相结构的方法。试验结果证实:该方法效果明显,结果直观、可靠;并可推广到类似材料的微观结构精细解析研究中。
胡莹1,2，张澜庭1
1. 上海交通大学材料科学与工程学院2. 宝山钢铁集团中央研究院
摘 要：SiC颗粒增强铝基复合材料(SiC_p/Al),由于其结构复杂且各组成单元之间的物理、化学性质存在明显的差异,因而在试样制备、微观结构表征等工作中存在一定困难。利用离子束截面抛光(CP)制样技术结合电子探针X射线分析仪(EPMA)分析,提出了一种适宜解析这种复合材料微观相结构的方法。试验结果证实:该方法效果明显,结果直观、可靠;并可推广到类似材料的微观结构精细解析研究中。
关键词：离子束截面抛光;电子探针仪分析;SiCp/Al复合材料;相结构解析;
