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磁控溅射制备Ni-Mn-Ga磁性形状记忆合金薄膜

来源期刊:金属功能材料2006年第1期

论文作者:张羊换 王新林 王国清 陈自新 郭世海 李长生

关键词:Ni-Mn-Ga; 薄膜; 形状记忆合金; 磁控溅射;

摘    要:本文采用直流磁控溅射的方法,分别在Si、Cu和NaCl基底上沉积了Ni-Mn-Ga薄膜,研究了不同基底、不同溅射条件和热处理对薄膜成分、组织形貌及结构的影响.结果表明,当溅射功率为22.5W,靶基距为40mm,溅射氩气压为0.1Pa时为最佳工艺参数.Si基片上薄膜比较致密均匀,Cu基片上薄膜则较为疏松,NaCl基片上薄膜表面分布着团簇颗粒,但三种薄膜均可见明显的岛状结构,表明薄膜的形成为核生长型机制.热处理前的薄膜具有部分非晶存在.

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磁控溅射制备Ni-Mn-Ga磁性形状记忆合金薄膜

张羊换1,王新林1,王国清1,陈自新2,郭世海1,李长生2

(1.钢铁研究总院功能材料所,北京,100081;
2.江苏大学微纳米科学技术研究中心,镇江,212013)

摘要:本文采用直流磁控溅射的方法,分别在Si、Cu和NaCl基底上沉积了Ni-Mn-Ga薄膜,研究了不同基底、不同溅射条件和热处理对薄膜成分、组织形貌及结构的影响.结果表明,当溅射功率为22.5W,靶基距为40mm,溅射氩气压为0.1Pa时为最佳工艺参数.Si基片上薄膜比较致密均匀,Cu基片上薄膜则较为疏松,NaCl基片上薄膜表面分布着团簇颗粒,但三种薄膜均可见明显的岛状结构,表明薄膜的形成为核生长型机制.热处理前的薄膜具有部分非晶存在.

关键词:Ni-Mn-Ga; 薄膜; 形状记忆合金; 磁控溅射;

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