X射线荧光光谱分析磁光新晶体材料

来源期刊：分析试验室2016年第3期

论文作者：高捷 盛成 卓尚军

文章页码：349 - 352

关键词：X射线荧光光谱;磁光晶体;单晶;定量分析;

摘    要：用XRF对磁光新晶体生长前后分别进行了定量分析,并比较了不同的制样方法和分析方法。测试结果显示:熔片法比压片法准确度高,定量分析比半定量分析准确度高;通过定量分析对新晶体材料的标定,发现新晶体是非常接近化学计量比的单晶晶体生长过程;而当晶体生长失败后,能通过定量和半定量分析得到验证,说明采用定量方法更能够准确的对磁光晶体生长过程进行表征,而半定量分析则可以快速简便的筛选出晶体生长中失败的晶体材料。最后对定量分析结果的不确定度进行了分析和评定,计算出晶体材料中各元素Tb,Ga,Al的合成绝对标准不确定为0.2%~0.3%,扩展不确定为0.4%~0.6%,置信概率95%。