X射线荧光光谱法测定铝锂合金中多元素含量

来源期刊：冶金分析2014年第10期

论文作者：田伦富 邹德霜 代以春 江学强 沈叶青 杨金芳 林良栋

文章页码：52 - 56

关键词：X射线荧光光谱法;铝锂合金;基体效应校正;元素分析;

摘    要：选择铝锂合金系列标样建立校准曲线,通过基本参数法校正基体效应和光谱干扰,结果表明,校正后多数元素校准曲线的标准偏差(SD)和品质因子(K)变得更小,曲线的离散度降低,线性关系得到较大改善,由此建立了波长色散X射线荧光光谱法测定铝锂合金中Mg、Si、Ti、Cr、Zr、Fe、Cu、Zn、Mn等9种元素含量的新方法。各元素的检出限均低于4.5μg/g。对E986铝锂合金标准样品进行精密度考察,各元素测定结果的相对标准偏差均低于0.9%;对铝锂合金实际样品进行分析,测定值与湿法及火花源原子发射光谱法的测定值吻合较好,能够满足铝锂合金中各元素的检测要求。