热电离质谱法测定次纳克级钕同位素比值

来源期刊：理化检验-化学分册2014年第10期

论文作者：王家松 彭丽娜 许雅雯

文章页码：1206 - 1212

关键词：热电离质谱法;次纳克级;钕同位素比值;质量分馏;

摘    要：采用热电离质谱法测定次纳克级钕同位素的比值。应用金属铼带对0.1⁰.5ng Nd同位素标准样品进行测定,在不添加任何发射剂或者电离增强剂的条件下,采用特定的聚焦程序,获得了0.4¹V的142 Nd+稳定离子流,持续时间可达30min以上。电流范围在1 700² 000mA之间时,质量分馏效应缓慢变低稳定。应用此方法对42个0.1⁰.5ng La Jolla国际标准样品和18个0.1⁰.5ng LRIG-Nd室内参考标准样品进行测定,143 Nd/144 Nd比值分别为0.511 852±0.000 002（2SE）和0.512 201±0.000 003（2SE）,与其他报道参考值相符。