IEC火花试验装置打火间隔及灵敏度分析

来源期刊：北方工业大学学报2017年第2期

论文作者：孟庆海 王进己 袁明华

文章页码：49 - 54

关键词：IEC火花试验装置;本质安全;打火间隔;检测灵敏度;

摘    要：电路的本质安全性能需要在IEC火花试验装置上进行爆炸试验来考核.钨丝数量以及凹槽打火间隔均影响火花试验装置的灵敏度,通常近似认为凹槽打火间隔固定为凹槽宽度2mm不变.本文通过数学计算,得到了钨丝与镉盘凹槽边缘的接触、分离规律,绘制了镉盘凹槽打火间隔分布直方图,得出凹槽打火间隔范围为1.94~5.68mm的结论.基于凹槽实际打火间隔,分析了不同时间常数下容性电路的有效打火次数,发现实际有效火花数目最大可达1952个,区别于通常认为的1600个.分析结果对提高容性电路检测灵敏度具有指导意义.