Bi系铜氧化物射频介电性质的研究
来源期刊：材料导报2010年第18期
论文作者：冯双久 张显良 倪江利
文章页码：15 - 43
关键词：电工材料;介电性质;Bi系铜氧化物;空间电荷极化;损耗角正切;
摘 要：测量了不同离子掺杂Bi2Sr2CaCu2Oy多晶样品的射频介电常数,发现样品的介电常数存在明显差别,分析认为这是由于离子掺杂改变了材料中的载流子浓度,导致材料的空间电荷极化差异所引起的。基于这种机制,成功解释了不掺杂样品在1700MHz附近的弛豫现象和不同样品损耗性质的差异。
冯双久，张显良，倪江利
安徽大学物理与材料科学学院信息材料与器件重点实验室
摘 要：测量了不同离子掺杂Bi2Sr2CaCu2Oy多晶样品的射频介电常数,发现样品的介电常数存在明显差别,分析认为这是由于离子掺杂改变了材料中的载流子浓度,导致材料的空间电荷极化差异所引起的。基于这种机制,成功解释了不掺杂样品在1700MHz附近的弛豫现象和不同样品损耗性质的差异。
关键词：电工材料;介电性质;Bi系铜氧化物;空间电荷极化;损耗角正切;
