一种近红外宽光谱CMOS单光子雪崩二极管探测器
来源期刊:功能材料与器件学报2018年第2期
论文作者:赵庭晨 朱思慧 袁丰 徐跃
文章页码:121 - 126
关键词:单光子雪崩二极管(SPAD);光子探测效率(PDE);带-带隧穿效应(BTBT);暗计数率(DCR);
摘 要:本文提出了一种新型近红外宽光谱的CMOS单光子雪崩二极管探测器(SPAD)结构,采用深N阱与P-外延层作为主雪崩区,增强了近红外短波光子探测效率;同时在深N阱内形成两个对称的环状次雪崩区,提高了光谱的响应范围。在0.18μm CMOS工艺下对该新型SPAD结构与传统P+/Nwell结构进行了仿真比较,TCAD仿真结果表明在850nm的近红外短波波段,新型SPAD器件的光子探测效率(PDE)达到19.9%,约为P+/Nwell结构的5倍,且在300nm-1000nm宽光谱范围内器件都能得到较高的响应。此外,由于雪崩区场强低,该新型SPAD器件受带-带隧穿效应(BTBT)影响小,暗计数率(DCR)随过偏压变化小,并且在温度低于20℃时DCR都远小于P+/Nwell结构。
赵庭晨1,朱思慧1,袁丰1,2,徐跃1,2
1. 南京邮电大学电子与光学工程学院&微电子学院2. 射频集成与微组装技术国家地方联合工程实验室
摘 要:本文提出了一种新型近红外宽光谱的CMOS单光子雪崩二极管探测器(SPAD)结构,采用深N阱与P-外延层作为主雪崩区,增强了近红外短波光子探测效率;同时在深N阱内形成两个对称的环状次雪崩区,提高了光谱的响应范围。在0.18μm CMOS工艺下对该新型SPAD结构与传统P+/Nwell结构进行了仿真比较,TCAD仿真结果表明在850nm的近红外短波波段,新型SPAD器件的光子探测效率(PDE)达到19.9%,约为P+/Nwell结构的5倍,且在300nm-1000nm宽光谱范围内器件都能得到较高的响应。此外,由于雪崩区场强低,该新型SPAD器件受带-带隧穿效应(BTBT)影响小,暗计数率(DCR)随过偏压变化小,并且在温度低于20℃时DCR都远小于P+/Nwell结构。
关键词:单光子雪崩二极管(SPAD);光子探测效率(PDE);带-带隧穿效应(BTBT);暗计数率(DCR);