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X射线荧光光谱法测定氮化钒铁中铁、钒、硅的含量

来源期刊:理化检验-化学分册2014年第6期

论文作者:高树峰 张海岩 张玉平 李彦辉 宋晓军

文章页码:681 - 684

关键词:X射线荧光光谱法;氮化钒铁;模压法制样;铁;钒;硅;

摘    要:应用X射线荧光光谱法测定氮化钒铁中铁、钒和硅的含量。样品需研磨过孔径为0.074mm的样筛(即200号筛),用淀粉或甲基纤维素为粘合剂,将样品细粉压制成样片,样片厚度在3~5mm间。试验表明:上法制得的样片所得荧光强度稳定,测定结果的精密度符合要求。铁、钒、硅3种元素测定值的相对标准偏差(n=10)依次为0.27%,0.23%,1.51%。经验证,本方法的测定结果与化学法测定结果相符。用基体匹配法制作工作曲线,进行定量分析。

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X射线荧光光谱法测定氮化钒铁中铁、钒、硅的含量

高树峰1,张海岩1,张玉平2,李彦辉3,宋晓军1

1. 河北钢铁集团承钢公司河北省钒钛工程技术研究中心2. 承德石油高等专科学校3. 河北钢铁集团承钢公司钒制品厂

摘 要:应用X射线荧光光谱法测定氮化钒铁中铁、钒和硅的含量。样品需研磨过孔径为0.074mm的样筛(即200号筛),用淀粉或甲基纤维素为粘合剂,将样品细粉压制成样片,样片厚度在3~5mm间。试验表明:上法制得的样片所得荧光强度稳定,测定结果的精密度符合要求。铁、钒、硅3种元素测定值的相对标准偏差(n=10)依次为0.27%,0.23%,1.51%。经验证,本方法的测定结果与化学法测定结果相符。用基体匹配法制作工作曲线,进行定量分析。

关键词:X射线荧光光谱法;氮化钒铁;模压法制样;铁;钒;硅;

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