粗大晶粒PZT陶瓷中电畴的结构

来源期刊：材料研究学报2004年第5期

论文作者：戴林杉 曾慧中 包生祥

关键词：无机非金属材料; 铁电体; 扫描力显微镜; 电畴; PZT陶瓷; 压电响应;

摘    要：应用扫描力显微镜(SFM)的压电响应模式观测未经抛光处理的PZT陶瓷片的电畴结构,用纵向压电响应信号和侧向压电响应信号获得PZT陶瓷材料三维电畴结构.结果表明,将样品晶粒的微形貌与SFM的纵向和侧向压电响应信号相结合,能准确表征粗大晶粒样品的三维电畴结构.用SFM可观测表面不经任何处理的陶瓷样品的电畴,不会引入表面应力等影响因素,能得到样品的原生畴结构.对原生畴结构的观察表明,对于受应力较大的晶粒,成畴的主要原因是降低应变能,而受应力较小的晶粒成畴的主要原因是降低退极化能.