样品厚度对X-射线荧光分析结果的影响

来源期刊：世界有色金属2019年第10期

论文作者：曹年凤

文章页码：149 - 150

关键词：x-射线;地质样;

摘    要：利用X-射线荧光光谱仪（XRF）结合windows CE 6.0的Innov-x专用分析软件快速对钨矿石中钨的含量进行测定。对同一批样品采用XRF专用杯膜进行快速测定,并讨论样品厚度对钨检测结果的影响。实验表明,当对WO₃在1.5%以下的样品测定钨结果的相对标准偏差（RSD,n=3）在0.003%～0.046%之间。通过钨矿石化学分析方法论证测定值均在误差范围内。通过对多个样品的分析比对,实验方法的分析结果与常规化学测定值基本一致,符合地质样分析规范要求。