超细粉末压片-X射线荧光光谱法测定磷矿石中12种组分

来源期刊：冶金分析2015年第7期

论文作者：曾江萍 张莉娟 李小莉 张楠 吴良英 王力强

文章页码：37 - 43

关键词：超细粉末;压片;磷矿石;X射线荧光光谱法;

摘    要：粉末压片法是一种理想的绿色环保制样方法,简单快速,但是粒度效应对测定结果的影响很大,限制了这种方法在很多领域的应用。为了解决粒度效应对粉末直接压片法的影响,实验利用超高速行星式超细碎样机,将磷矿石标准物质粉碎至微米级,采用粉末直接压片制样,利用波长色散X射线荧光光谱仪对磷矿石中12种组分（氟、五氧化二磷、二氧化硅、三氧化二铝、全三氧化二铁、氧化锰、二氧化钛、氧化锶、氧化钙、氧化锰、氧化钾、氧化钠）进行了测定。结果表明,将样品粉碎至微米级,能够有效地克服样品的粒度效应,获得了比较满意的结果;特别是将氟的测定范围提高到了10.68%,对轻组分氧化钾和氧化钠的测定结果也很好。采用多种磷矿石标准物质和人工配制标准物质制作校准曲线,各组分的均方根为0.001 1⁰.53。校准曲线采用经验系数和康普顿散射线内标法校正组分间的吸收-增强效应,方法的检出限为3²82μg/g。对两个磷矿石国家标准样品进行精密度考察,各组分测定结果的相对标准偏差（RSD,n=10）为0.17%⁵.2%。对采用标准物质配制的混合标准样品进行准确度考察,测定值与参考值一致。