二阶自相关过程Shewhart型控制图的性能评价
来源期刊:控制与决策2011年第4期
论文作者:孙秋霞 高齐圣
文章页码:619 - 1250
关键词:统计过程控制;修正Shewhart图;Shewhart残差图;平均运行链长;自相关过程;
摘 要:针对二阶自相关过程,分别采用有限马氏链内嵌法和积分法给出了Shewhart型修正控制图和残差控制图平均运行链长的计算方法,并通过其数值结果的比较分析,得到结论:当自相关过程系数均为正值时,修正图的性能较好;当过程系数均取负值时,残差图较为适用;当过程系数符号相异时,两图性能可采用所给方法具体比较.该结论为控制图的选择和应用提供了理论依据.
孙秋霞1,2,高齐圣1
1. 青岛大学经济学院2. 山东科技大学理学院
摘 要:针对二阶自相关过程,分别采用有限马氏链内嵌法和积分法给出了Shewhart型修正控制图和残差控制图平均运行链长的计算方法,并通过其数值结果的比较分析,得到结论:当自相关过程系数均为正值时,修正图的性能较好;当过程系数均取负值时,残差图较为适用;当过程系数符号相异时,两图性能可采用所给方法具体比较.该结论为控制图的选择和应用提供了理论依据.
关键词:统计过程控制;修正Shewhart图;Shewhart残差图;平均运行链长;自相关过程;