高聚物/金属界面微观的表征方法
来源期刊：材料导报2007年第4期
论文作者：路民旭 许立宁 张颖怀
关键词：界面; 表征; 衰减全反射红外光谱; X射线光电子能谱; 拉曼光谱;
摘 要：为了提高胶粘剂、有机涂层、缓蚀剂的性能,了解高聚物/金属界面的结构和性能是非常必要的.目前常用的表征表面的方法直接测定界面层结构尚有困难,因为界面层不能孤立出来直接研究.着重介绍了与有机膜层/金属粘接界面相关的表征方法.衰减全反射红外光谱(ATR-IR)不仅能分析高聚物表面结构信息,还可分析不透明的材料表层及含水材料信息.反射吸收红外光谱(RA-IR)则对研究金属表面涂层分子取向、金属表面化学反应比较有效.X射线光电子能谱(XPS)能较好地表征金属与高聚物间的相互作用.拉曼光谱法与电化学方法相结合可以原位表征金属表面在分子水平上的信息.通过比较认为FTIR与XPS相结合是相对理想的表征界面的方法.
路民旭1，许立宁1，张颖怀1
(1.北京科技大学材料与工程学院,北京,100083)
摘要:为了提高胶粘剂、有机涂层、缓蚀剂的性能,了解高聚物/金属界面的结构和性能是非常必要的.目前常用的表征表面的方法直接测定界面层结构尚有困难,因为界面层不能孤立出来直接研究.着重介绍了与有机膜层/金属粘接界面相关的表征方法.衰减全反射红外光谱(ATR-IR)不仅能分析高聚物表面结构信息,还可分析不透明的材料表层及含水材料信息.反射吸收红外光谱(RA-IR)则对研究金属表面涂层分子取向、金属表面化学反应比较有效.X射线光电子能谱(XPS)能较好地表征金属与高聚物间的相互作用.拉曼光谱法与电化学方法相结合可以原位表征金属表面在分子水平上的信息.通过比较认为FTIR与XPS相结合是相对理想的表征界面的方法.
关键词:界面; 表征; 衰减全反射红外光谱; X射线光电子能谱; 拉曼光谱;
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