镀金液中铜杂质的分光光度分析
来源期刊：材料保护1999年第10期
论文作者：魏忻 任菲 杨晓战 沈卓身
关键词：分光光度法; 镀金液; 铜;
摘 要：高可靠微电子封装的镀金液中铜离子是有害杂质,最高允许含量为25 mg/L.用2,9-二甲基-4,7-二苯基-1,10-邻菲罗啉(向红亚铜灵)作显色剂,采用pH值为4的缓冲体系,在乙醇介质中,于475 nm 波长处对镀金液中的微量铜杂质直接进行分光光度测定.本法具有快速、简便等特点,且镀液中的其他成分对分析干扰小,适合现场使用.
魏忻1，任菲1，杨晓战1，沈卓身1
(1.北京科技大学表面科学与腐蚀工程系,100083)
摘要:高可靠微电子封装的镀金液中铜离子是有害杂质,最高允许含量为25 mg/L.用2,9-二甲基-4,7-二苯基-1,10-邻菲罗啉(向红亚铜灵)作显色剂,采用pH值为4的缓冲体系,在乙醇介质中,于475 nm 波长处对镀金液中的微量铜杂质直接进行分光光度测定.本法具有快速、简便等特点,且镀液中的其他成分对分析干扰小,适合现场使用.
关键词:分光光度法; 镀金液; 铜;
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