选矿厂矿浆品位自动分析——载流 X 荧光分析仪
来源期刊：有色金属工程1979年第1期
论文作者：李忠义
文章页码：55 - 61
摘 要：<正> 载流 X 荧光分析仪,是以 X 射线为一次辐射源,采用集中的进样装置,连续依次测定许多种矿浆品位的一种大型精密分析仪。现简要介绍其原理。一、X 射线的产生及衍射图1是一种产生 X 射线的射线管。其中K 是发
李忠义
摘 要：<正> 载流 X 荧光分析仪,是以 X 射线为一次辐射源,采用集中的进样装置,连续依次测定许多种矿浆品位的一种大型精密分析仪。现简要介绍其原理。一、X 射线的产生及衍射图1是一种产生 X 射线的射线管。其中K 是发
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