共沉淀分离-氢化物发生-原子荧光光谱法测定高纯偏钨酸铵中痕量铋

来源期刊：分析试验室2010年第12期

论文作者：张殿凯 郑永章 臧慕文 童坚

文章页码：70 - 72

关键词：共沉淀;氢化物发生;原子荧光光谱法;偏钨酸铵;铋;

摘    要：提出了以氢氧化镧为共沉淀剂,对高纯偏钨酸铵中痕量杂质元素铋进行共沉淀分离富集后以HG-AFS进行测定的方法。在强碱性环境中进行两次共沉淀,能使铋元素定量分离回收,偏钨酸铵残留量降至很低水平。选择了适宜的反应条件以及仪器的最佳工作条件,考察了钨基体对被测元素的干扰。铋的检出限0.020 ng/mL,测定下限0.012μg/g,相对标准偏差4.6%,回收率在92.8%¹08.4%之间,方法适用于高纯偏钨酸铵中痕量铋的测定。