HG-ICP-MS法测定纯镍中痕量As、Sb、Bi、Se、Te、Sn

来源期刊：分析试验室2003年第3期

论文作者：潘元海 刘刚 刘湘生

文章页码：19 - 22

关键词：纯镍;氢化物发生;共沉淀法;电感耦合等离子体质谱;

摘    要：应用本实验室设计的雾室座作为接口 ,采用气动型流动注射氢化物发生(HG)装置与电感耦合等离子体质谱仪 (ICP MS)联机。考察了各种介质条件及镍基体对生成氢化物的影响并应用氢氧化镧共沉淀分离富集 ,HG与ICP MS联机测定纯镍中易于生成氢化物的As、Sb、Bi、Se、Te、Sn 6个元素 ,加标回收率为96.5 %～ 1 0 2 .2 % ,RSD为 2 .4%～ 5 .8% ,方法检出限为 7.1～ 30ng L。